上海棱光近紅外分光光度計S430

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詳細介紹

近紅外光譜分析儀（Near Infrared Spectroscopy Analyzer，NIR光譜儀）是一種常用的非破壞性分析儀器，用于對物質進行近紅外光譜分析。下面對近紅外光譜分析儀進行簡單介紹。

近紅外光譜分析儀工作原理：

近紅外光譜分析基于樣品在近紅外波段（約700-2500 nm）吸收和散射特性來獲得相關信息。

儀器通過發射一束寬帶的近紅外輻射，并測量經過樣品后返回的反射或透射信號。

比較待測物質與參考標準之間的差異，利用數學算法建立模型，并根據模型預測待測樣品中的成分、含量或其他屬性。

近紅外光譜分析儀特點和優勢：

1、非破壞性：不需要對樣品進行處理或破壞，可直接對固體、液體及氣體等不同形態的樣品進行檢測。

2、快速：可以在幾秒鐘到幾分鐘內完成一次掃描和數據處理，提供即時結果。

3、多參數檢測：可以同時檢測多個組分或屬性，在藥品、食品、化工等行業有廣泛應用。

4、無需樣品制備：不需要對樣品進行處理、稀釋或前處理，降低了操作的復雜性和時間成本。

近紅外光譜分析儀使用操作規程：

1、根據使用說明書正確安裝儀器并連接所需電源和數據傳輸線。

2、打開儀器電源，并根據實驗要求選擇合適的波長范圍及參數設置。

3、準備好待測物質樣品，將其放置在樣品池或傳感區域中。

4、啟動測量程序，在一定時間內記錄下讀數穩定后的光強值或吸收譜線。

5、根據需要進行多次測量以獲得平均值，并記錄相關數據。

近紅外光譜分析儀是一種常用的非破壞性分析儀器，通過近紅外光譜技術獲取物質的吸收和散射信息來預測其組成、含量或其他屬性，了解其工作原理、使用操作規程以及優勢可以幫助用戶正確使用和解讀檢測結果。

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