常州幸運半微量分析天平FA205SEM-ION

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詳細介紹

FA（SEM）系列半微量分析天平

半微量天平精度達 0.01 毫克。該系列配備新型高度集成式電磁傳感器，其所有型號都可自動內部校準，具有高精度和

高可重復性的特點。所有 HPBG 型天平均配有一個很大的圖形顯示屏，便于用戶操作。新型semiMicro 天平擁有一貫的

優異性價比。

功能

電磁力恢復稱重系統

高度集成的稱重傳感器

配方數據庫：可儲存 99 種配方，每種配方最多含 20 種成分

大屏圖形顯示屏，可以輕松、高效地進行操作

支持多語言：英語、德語、法語、意大利語、西班牙語、葡萄牙語

以 GLP/ISO 格式記錄保存重量值，含日期、時間和序列號

擋風大玻璃罩，帶 3 個滑動門，方便操作待稱重物品

鍵盤塑料保護

選配附件

ION-A15 靜電消除器

天平平板系統。USB 版本(BL0329) 或藍牙版本(BL0330)

DPP-250-BT 藍牙打印機，用于 BEL 平板系統(AC013)

TLP-50 串行打印機，帶日期/時間(C054)

DPP-250 串行打印機(AC007)

STAT 串行打印機，帶統計功能(AC022)

字母數字外部鍵盤(AC005)

串行到 USB 轉換器(E1002)

串行電纜，用于串行輸出到打印機或電腦(E743)

出廠校準證書(BL0333)

技術數據

量程漂移(+10 … +30°C): +/– 2ppm/°C

外形尺寸：長×寬×高(毫米):345×215×345

稱重室尺寸：長×寬×高(毫米): 162×171×225

外部電子盒尺寸：長×寬×高(毫米):175×105×50(毫米)，重量 500 克

電源 110-230 Vac, 50/60 Hz:輸出 24 V / 500 mA / 13 VA

凈重：7 千克

技術參數

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